电议
功能测试（全“1”全“0”） 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.6
功能测试（全“1”全“0”） 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.6
检测项目
- 功能测试（全“1”全“0”）半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.6-能测：管脚数≤512；速率 ≤ 1.6Gbps；施加/测量电流量程：-100mA～+100mA；施加/测量电压量程：-24V～+24V。 不能测：滞后电压V<SUB>bys</SUB>、通过时钟线提供的功率P、输入阻抗Z<SUB>I</SUB>、输出阻抗Z<SUB>O</SUB>、分辨时间t<SUB>res</SUB>、转换时间t<SUB>t</SUB>、时序电路的转换频率f<SUB>tr</SUB>。
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
服务详情
检测标准
检测项目 功能测试（全“1”全“0”）
检测标准号 GB/T 17574-1998
检测方法名 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.6
限制说明 能测：管脚数≤512；速率 ≤ 1.6Gbps；施加/测量电流量程：-100mA～+100mA；施加/测量电压量程：-24V～+24V。 不能测：滞后电压V<SUB>bys</SUB>、通过时钟线提供的功率P、输入阻抗Z<SUB>I</SUB>、输出阻抗Z<SUB>O</SUB>、分辨时间t<SUB>res</SUB>、转换时间t<SUB>t</SUB>、时序电路的转换频率f<SUB>tr</SUB>。
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
相关标准
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路
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