半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路检测

电议

输入高电平电流IIH、输入低电平电流IIL 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.2

检测项目

输入高电平电流IIH、输入低电平电流IIL

半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.2-能测：管脚数≤512；速率 ≤ 1.6Gbps；施加/测量电流量程：-100mA～+100mA；施加/测量电压量程：-24V～+24V。不能测：滞后电压Vbys、通过时钟线提供的功率P、输入阻抗ZI、输出阻抗ZO、分辨时间tres、转换时间tt、时序电路的转换频率ftr。

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。