- 输入失调电流I<Sub>IO</Sub>半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.3 SJ/T 10805-2018/5.3-能测：输入失调电压V<SUB>IO</SUB>：20mV，输入失调电流I<SUB>IO</SUB>：8μA，输入偏置电流I<SUB>IB</SUB>：8μA，增益40dB～146 dB，输出高电平电压V<SUB>OH</SUB>：0～40V，输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>：0～2V，电流0～400mA；不能测：输入失调电压温度系数α<SUB>VIO</SUB>、输入失调电流温度系数α<SUB>IIO</SUB>、输入偏置电流温度系数α<SUB>IIB</SUB>、共模抑制比K<SUB>CMR</SUB>、电源电压抑制比K<SUB>SVR</SUB>、最大共模输入电压V<SUB>ICM</SUB>、最大差模输入电压V<SUB>IDM</SUB>、开环差模输入电阻R<SUB>ID</SUB>、开环单端输出电阻R<SUB>OS</SUB>、低电平选通电流I<SUB>ST（L）</SUB>、高电平选通电流I<SUB>ST（H）</SUB>、响应时间t<SUB>R </SUB>、选通延迟时间t<SUB>ST </SUB>。
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
检测项目 输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测标准号 GB/T 6798-1996
检测方法名 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.3 SJ/T 10805-2018/5.3
限制说明 能测：输入失调电压V<SUB>IO</SUB>：20mV，输入失调电流I<SUB>IO</SUB>：8μA，输入偏置电流I<SUB>IB</SUB>：8μA，增益40dB～146 dB，输出高电平电压V<SUB>OH</SUB>：0～40V，输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>：0～2V，电流0～400mA；不能测：输入失调电压温度系数α<SUB>VIO</SUB>、输入失调电流温度系数α<SUB>IIO</SUB>、输入偏置电流温度系数α<SUB>IIB</SUB>、共模抑制比K<SUB>CMR</SUB>、电源电压抑制比K<SUB>SVR</SUB>、最大共模输入电压V<SUB>ICM</SUB>、最大差模输入电压V<SUB>IDM</SUB>、开环差模输入电阻R<SUB>ID</SUB>、开环单端输出电阻R<SUB>OS</SUB>、低电平选通电流I<SUB>ST（L）</SUB>、高电平选通电流I<SUB>ST（H）</SUB>、响应时间t<SUB>R </SUB>、选通延迟时间t<SUB>ST </SUB>。
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
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