电议
反向击穿电压（二极管） 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4节
反向击穿电压（二极管） 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4节
检测项目
- 反向击穿电压（二极管）半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4节-只测： 电压范围 （-2000V~2000V）
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
服务详情
检测标准
检测项目 反向击穿电压（二极管）
检测标准号 SJ/T 2215-2015
检测方法名 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.4节
限制说明 只测： 电压范围 （-2000V~2000V）
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
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