百检网
百检网
输入偏置电流I<Sub>IB 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996 2.5
电议
输入偏置电流I<Sub>IB 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996 2.5
输入偏置电流I<Sub>IB 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996 2.5
检测项目
  • 输入偏置电流I<Sub>IB
    半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996 2.5-只测 (-250mA~250mA)

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 输入偏置电流I<Sub>IB

    检测标准号 SJ/T 10738-1996

    检测方法名 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T10738-1996 2.5

    限制说明 只测 (-250mA~250mA)


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《SJ/T11141-2017Cl.6》发光二极管(LED)显示屏通用规范
《IEC60747-5-5:2007+A1:20137.4.3.2.1》半导体器件–分立器件–第5-5部分:光电子器件–光电耦合器
《SJ/T11281-2017Cl.3》发光二极管(LED)显示屏测试方法