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输出漏电流I<Sub>OH 半导体器件 集成电路 第2部分:数字电路 GB/T17574-1998
电议
输出漏电流I<Sub>OH 半导体器件 集成电路 第2部分:数字电路 GB/T17574-1998
输出漏电流I<Sub>OH 半导体器件 集成电路 第2部分:数字电路 GB/T17574-1998
检测项目
  • 输出漏电流I<Sub>OH
    半导体器件 集成电路 第2部分:数字电路 GB/T17574-1998-只测(-250mA-250mA)

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 输出漏电流I<Sub>OH

    检测标准号 GB/T 17574-1998

    检测方法名 半导体器件 集成电路 第2部分:数字电路 GB/T17574-1998

    限制说明 只测(-250mA-250mA)


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



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