集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理检测

电议

零点误差E<Sub>o 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.1

检测项目

零点误差E<Sub>o

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.1-只测（≥1mV）

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目零点误差E<Sub>o

检测标准号 SJ 20961-2006

检测方法名集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.1

限制说明只测（≥1mV）

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T 6040-2019》红外光谱分析方法通则 GB/T 6040-2019
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.5
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.2
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.5
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.1
《GB/T 31838.2-2019》固体绝缘材料介电和电阻特性第2部分：电阻特性(DC方法) 体积电阻和体积电阻率 GB/T 31838.2-2019
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.3

电话咨询

扫码优惠

我要检测