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集电极-发射极击穿电压 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
电议
集电极-发射极击穿电压 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
集电极-发射极击穿电压 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项目
  • 集电极-发射极击穿电压
    半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011-只做:电压:(0~2000)V 电流:(0~200)A

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 集电极-发射极击穿电压

    检测标准号 GJB 128A-1997

    检测方法名 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011

    限制说明 只做:电压:(0~2000)V 电流:(0~200)A


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


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