电子及电气元件试验方法检测

电议

温度冲击试验电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

检测项目

温度冲击试验

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009-只测： ①容积：≤0.5m³(W800*H800*D800)mm,温度范围：室温+20℃～300℃；②容积：1m³(W1000*H1000*D1000)mm,温度：-75℃～180℃；

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目温度冲击试验

检测标准号 GJB 360B-2009

检测方法名电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

限制说明只测： ①容积：≤0.5m³(W800*H800*D800)mm,温度范围：室温+20℃～300℃；②容积：1m³(W1000*H1000*D1000)mm,温度：-75℃～180℃；

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

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