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冲击试验 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2002
电议
冲击试验 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2002
冲击试验 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2002
检测项目
  • 冲击试验
    《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2002-只做:加速度:(30-1500)g脉宽:(0.5-11)ms加速度:5g~40g脉宽:6ms~18ms 波形:半正弦波 仅用于特定用户的特定产品

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 冲击试验

    检测标准号 GJB 548A-1996

    检测方法名 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548A-1996 方法2002

    限制说明 只做:加速度:(30-1500)g脉宽:(0.5-11)ms加速度:5g~40g脉宽:6ms~18ms 波形:半正弦波 仅用于特定用户的特定产品


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



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相关标准
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路