百检网
百检网
盐雾(腐蚀) 《半导体集成电路机械和气候试验方法》 SJ/T10745-1996 第3.14条
电议
盐雾(腐蚀) 《半导体集成电路机械和气候试验方法》 SJ/T10745-1996 第3.14条
盐雾(腐蚀) 《半导体集成电路机械和气候试验方法》 SJ/T10745-1996 第3.14条
检测项目
  • 盐雾(腐蚀)
    《半导体集成电路机械和气候试验方法》 SJ/T10745-1996 第3.14条-只做:工作容积:1.36m<Sup>3</Sup>;温度范围:10℃~55℃

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 盐雾(腐蚀)

    检测标准号 SJ/T 10745-1996

    检测方法名 《半导体集成电路机械和气候试验方法》 SJ/T10745-1996 第3.14条

    限制说明 只做:工作容积:1.36m<Sup>3</Sup>;温度范围:10℃~55℃


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路