超导-第3部分: 临界电流测量银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223 氧化物超导体的直流临界电流检测

电议

Ic值测试超导-第3部分: 临界电流测量银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223 氧化物超导体的直流临界电流 IEC-61788-3-2006

检测项目

Ic值测试

超导-第3部分: 临界电流测量银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223 氧化物超导体的直流临界电流 IEC-61788-3-2006-仅测大气工况、液氮环境、无磁场条件下超导体（长度≤500mm）的直流临界电流（≤1000A）。

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目 Ic值测试

检测标准号 IEC-61788-3-2006

检测方法名超导-第3部分: 临界电流测量银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223 氧化物超导体的直流临界电流 IEC-61788-3-2006

限制说明仅测大气工况、液氮环境、无磁场条件下超导体（长度≤500mm）的直流临界电流（≤1000A）。

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《IEC-61788-3-2006》超导-第3部分: 临界电流测量银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223 氧化物超导体的直流临界电流 IEC-61788-3-2006
《GB/T13397-2008》合金内氧化法银金属氧化物电触头技术条件
《BS7448-1:1991》断裂韧性试验第1部分金属材料的KIc临界CTOD和临界J值的测定方法
《GB/T 28871-2012》铌三锡（Nb3Sn）复合超导体的直流临界电流测量 GB/T 28871-2012
《IEC61788-13-2012》超导电性-第13部分：交流损耗测量-超导多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法
《GB/T 18502-2018》临界电流测量银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流 GB/T 18502-2018
《BS 7448-1:1991》断裂韧性试验第1部分金属材料的KIc临界CTOD和临界J值的测定方法 BS 7448-1:1991
《BS 7448-1:1991(R2007)》《断裂韧性试验第1部分：金属材料KIC值，临界CTOD值和临界J值的测定方法》 BS 7448-1:1991(R2007)
《BS7448-2:1997》断裂韧性试验第2部分焊接接头的KIc临界CTOD和临界J值的测定方法
《BS7448-1:1991》断裂力学韧性试验-第1部分：金属材料KIc临界CTOD和临界J值的测定方法 BS7448-1:1991

电话咨询

扫码优惠

我要检测