百检网
百检网
布线、操作性能和功能 低压成套无功功率补偿装置 GB/T 15576-2020 10.1
电议
布线、操作性能和功能 低压成套无功功率补偿装置 GB/T 15576-2020 10.1
布线、操作性能和功能 低压成套无功功率补偿装置 GB/T 15576-2020 10.1
检测项目
  • 布线、操作性能和功能
    低压成套无功功率补偿装置 GB/T 15576-2020 10.1-

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 布线、操作性能和功能

    检测标准号 GB/T 15576-2020

    检测方法名 低压成套无功功率补偿装置 GB/T 15576-2020 10.1

    限制说明


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《GJB1648A-2011》晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011 4.6.17
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1021
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2056,方法2057
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1041,方法1046
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法:1001
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.23
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.24
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051 A、 B
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.22
《GJB 548B-2005》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1