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静态漏—源通态电阻<I>r</I><Sub>DS</Sub><Sub>(on)</Sub> 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ15
电议
静态漏—源通态电阻<I>r</I><Sub>DS</Sub><Sub>(on)</Sub> 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ15
静态漏—源通态电阻<I>r</I><Sub>DS</Sub><Sub>(on)</Sub> 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ15
检测项目
  • 静态漏—源通态电阻<I>r</I><Sub>DS</Sub><Sub>(on)</Sub>
    半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ15-只测:VDS: 0.1V~+30V; VGS: -30V~+30V; ID: 10A~500A; IG: 10µA~10A

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 静态漏—源通态电阻<I>r</I><Sub>DS</Sub><Sub>(on)</Sub>

    检测标准号 GB/T 4586-1994

    检测方法名 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ15

    限制说明 只测:VDS: 0.1V~+30V; VGS: -30V~+30V; ID: 10A~500A; IG: 10µA~10A


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



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