百检网
百检网
无偏压高加速应力试验 基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 AEC-Q100-Rev-H:2014
电议
无偏压高加速应力试验 基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 AEC-Q100-Rev-H:2014
无偏压高加速应力试验 基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 AEC-Q100-Rev-H:2014
检测项目
  • 无偏压高加速应力试验
    基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 AEC-Q100-Rev-H:2014-仅限汽车电子集成电路客户

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 无偏压高加速应力试验

    检测标准号 AEC-Q100-Rev-H:2014

    检测方法名 基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 AEC-Q100-Rev-H:2014

    限制说明 仅限汽车电子集成电路客户


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路