早期失效率检测

电议

高温寿命试验早期失效率 AEC-Q100-008-Rev-A：2003

检测项目

高温寿命试验

早期失效率 AEC-Q100-008-Rev-A：2003-只测： 85℃～150℃

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目高温寿命试验

检测标准号 AEC-Q100-008-Rev-A：2003

检测方法名早期失效率 AEC-Q100-008-Rev-A：2003

限制说明只测： 85℃～150℃

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节第3条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节第2条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节第1条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3节第6条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节第7条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节第6条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/6
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节第4条

电话咨询

扫码优惠

我要检测