非线绕精密电位器通用规范 GJB1865A-2015 第检测

电议

介质耐电压非线绕精密电位器通用规范 GJB1865A-2015 第4.5.11

检测项目

介质耐电压

非线绕精密电位器通用规范 GJB1865A-2015 第4.5.11-只测： 50VDC～5500VDC(50～VAC4500VAC)

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目介质耐电压

检测标准号 GJB 1865A-2015

检测方法名非线绕精密电位器通用规范 GJB1865A-2015 第4.5.11

限制说明只测： 50VDC～5500VDC(50～VAC4500VAC)

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T 6040-2019》红外光谱分析方法通则 GB/T 6040-2019
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.5
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.2
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.5
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.1
《GB/T 31838.2-2019》固体绝缘材料介电和电阻特性第2部分：电阻特性(DC方法) 体积电阻和体积电阻率 GB/T 31838.2-2019
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.3

电话咨询

扫码优惠

我要检测