半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-96 第2.1条检测

电议

输出高电平电压VOH 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-96 第2.1条

检测项目

输出高电平电压VOH

半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-96 第2.1条-仅适用于特定用户的特定产品；只测电压：-1V～+6V电流：-200mA～+200mA最大1024通道；电源电流：0mA～+15A最高频率：0Hz～2GHz

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目输出高电平电压VOH

检测标准号 SJ/T 10739-96

检测方法名半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-96 第2.1条

限制说明仅适用于特定用户的特定产品；只测电压：-1V～+6V电流：-200mA～+200mA最大1024通道；电源电流：0mA～+15A最高频率：0Hz～2GHz

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/4
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/2
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/3
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/1
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/6

电话咨询

扫码优惠

我要检测