军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目检测

电议

密封军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101 2.5、1102 2.5、1002 2.5、1003 2.6

检测项目

密封

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101 2.5、1102 2.5、1002 2.5、1003 2.6-只测：试验条件A1、试验条件C1（工作项目1101和1102）；试验条件H1、试验条件C（工作项目1002和1003）

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。