半导体分立器件试验方法检测

电议

二极管特性曲线半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997/ 4023

检测项目

二极管特性曲线

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997/ 4023-只测：电流：≤300A；电压： ≤3000V

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目二极管特性曲线

检测标准号 GJB 128A-1997

检测方法名半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997/ 4023

限制说明只测：电流：≤300A；电压： ≤3000V

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GJB 128A-1997》半导体器件分立器件试验方法 GJB128A-1997
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 4023
《GJB128A-1997GB/T4023-2015》半导体分立器件试验方法半导体分立器件.第2部分：整流二极管 GJB128A-1997GB/T4023-2015 7.1
《GJB 128A-1997》半导体器件分立器件试验方法 GJB128A-1997
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 4023
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
《GJB128A-1997GB/T4023-2015》半导体分立器件试验方法半导体分立器件.第2部分：整流二极管 GJB128A-1997GB/T4023-2015 方法4016，7.1.4
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 4011、4016、4023
《GJB 128A-1997GB/T4023-2015》半导体分立器件试验方法半导体分立器件.第2部分：整流二极管 GJB128A-1997GB/T4023-2015
《GJB128A-1997/》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997/ 4023

电话咨询

扫码优惠

我要检测