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低温试验 电子设备环境试验条件和方法 低温试验 QJ 1239.3-1987
电议
低温试验 电子设备环境试验条件和方法 低温试验 QJ 1239.3-1987
低温试验 电子设备环境试验条件和方法 低温试验 QJ 1239.3-1987
检测项目
  • 低温试验
    电子设备环境试验条件和方法 低温试验 QJ 1239.3-1987-只做: 容积:≤3m(D) ×2m(W) ×2m(H) 温度:常温~-60℃ 容积:≤1.5m(D) ×2m(W) ×2m(H) 温度:常温 ~-70℃

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 低温试验

    检测标准号 QJ 1239.3-1987

    检测方法名 电子设备环境试验条件和方法 低温试验 QJ 1239.3-1987

    限制说明 只做: 容积:≤3m(D) ×2m(W) ×2m(H) 温度:常温~-60℃ 容积:≤1.5m(D) ×2m(W) ×2m(H) 温度:常温 ~-70℃


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



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