微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法检测

电议

寿命微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法1005.20,1006,1007.7

检测项目

寿命

微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法1005.20,1006,1007.7-只测：容积≤22.5m³,箱内尺寸（mm）：3000×3000×2500; 最高温度：+200℃

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目寿命

检测标准号 MIL-STD-883J

检测方法名微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法1005.20,1006,1007.7

限制说明只测：容积≤22.5m³,箱内尺寸（mm）：3000×3000×2500; 最高温度：+200℃

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T12572-2008》无线电发射设备参数通用要求和测量方法
《ETSIEN301489-1V2.2.39.6》无线电设备和服务的电磁兼容性（EMC）标准；第1部分：通用技术要求；电磁兼容性协调标准
《ETSIEN301489-1V1.9.28.2》电磁兼容和无线电频谱事宜（ERM）;电磁兼容性（EMC）无线电设备和服务标准;第1部分：通用技术要求

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