微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法检测

电议

寿命微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1005,1006,1007

检测项目

寿命

微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1005,1006,1007-只做：容积：22.5m³,温度：≤120℃；容积10m³, 温度：≤+150℃，容积：≤2.2m³,温度：≤+300℃

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目寿命

检测标准号 MIL-STD-883H

检测方法名微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1005,1006,1007

限制说明只做：容积：22.5m³,温度：≤120℃；容积10m³, 温度：≤+150℃，容积：≤2.2m³,温度：≤+300℃

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《MIL-STD-883H-2010》微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1009
《MIL-STD-883H-2010》微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H-2010 1010
《MIL-STD-883J:2015》微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法2007.3
《MIL-STD-883H-2010》微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1004
《MIL-STD-883H-2010》微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1005,1006,1007
《MIL-STD-883K-2016》微电路试验方法 MIL-STD-883K-2016 方法1004.7
《MIL-STD-883H-2010》微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H-2010 1004
《MIL-STD-883H-2010》微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010 方法1010
《MIL-STD-883J:2015》微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法1010
《MIL-STD-883J:2015》微电路试验方法 MIL-STD-883J:2015 方法1005,1006,1007

电话咨询

扫码优惠

我要检测