《MIL-STD-883H:2010》微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883H:2010 方法2005.2,方法2006.1,方法2007.3,方法2026
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010 1010
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1001
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010 2005;2006;2007;2026
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 2005;2007;2026.1
《GJB 548B-2005方法2005,2006,2007、MIL-STD-883L-1-2019 方法2005.2,2006.1,2007.3》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005方法2005,2006,2007、MIL-STD-883L-1-2019 方法2005.2,2006.1,2007.3
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1009.8
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010 1009
《MIL-STD-883L-2019》微电子器件试验方法和程序 MIL-STD-883L-2019 方法2005.2、2006.1、 2007.3、2026
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 2005.2,
2006.1,
2007.3,
2026