微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法检测

电议

温度循环微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法1010

检测项目

温度循环

微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法1010-只测: 温度：-70℃~150℃

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目温度循环

检测标准号 GJB 548B-2005

检测方法名微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法1010

限制说明只测: 温度：-70℃~150℃

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883H-2010 1010
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1001
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1009.8
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1009
《GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015》微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法1010
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1010.9
《GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015》微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法2002
《GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015》微电子器件试验方法和程序微电路试验方法 GJB 548B-2005, MIL-STD-883K w/CHANGE2-2017,MIL-STD-883J：2015 方法1002
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 1004.1
《GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005、MIL-STD-883K-2017 2002.1

电话咨询

扫码优惠

我要检测