《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第III篇第2节、第IV篇第2节检测

电议

输入失调电压《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第III篇第2节、第IV篇第2节

检测项目

输入失调电压

《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第III篇第2节、第IV篇第2节-只测：0V-15V

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目输入失调电压

检测标准号 GB/T 17940-2000

检测方法名《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第III篇第2节、第IV篇第2节

限制说明只测：0V-15V

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GJB1648A-2011》晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011 4.6.17
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1021
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2056，方法2057
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1041，方法1046
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法：1001
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.23
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.24
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051 A、 B
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.22
《GJB 548B-2005》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1

电话咨询

扫码优惠

我要检测