电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第1部分：总规范-鉴定批准检测

电议

中心频率随温度的变化电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第1部分：总规范-鉴定批准 GB/T 12859.1-2012 4.20

检测项目

中心频率随温度的变化

电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第1部分：总规范-鉴定批准 GB/T 12859.1-2012 4.20-

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目中心频率随温度的变化

检测标准号 GB/T 12859.1-2012

检测方法名电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第1部分：总规范-鉴定批准 GB/T 12859.1-2012 4.20

限制说明

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T 6040-2019》红外光谱分析方法通则 GB/T 6040-2019
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.5
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.2
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.5
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.1
《GB/T 31838.2-2019》固体绝缘材料介电和电阻特性第2部分：电阻特性(DC方法) 体积电阻和体积电阻率 GB/T 31838.2-2019
《SJ/T 11394-2009》半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 5.3.3

电话咨询

扫码优惠

我要检测