电议
脉冲下降时间 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.10
脉冲下降时间 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.10
检测项目
- 脉冲下降时间半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.10-不测：半导体光耦合器（二极管）结电容，半导体光耦合器入出间隔离电容。
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
服务详情
检测标准
检测项目 脉冲下降时间
检测标准号 SJ/T 2215-2015
检测方法名 半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.10
限制说明 不测：半导体光耦合器（二极管）结电容，半导体光耦合器入出间隔离电容。
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
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