IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表检测

电议

低温工作寿命测试 IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表 5-1

检测项目

低温工作寿命测试

IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表 5-1-只测：LTOL，箱体容积：（L×W×H）（600×700×600）mm，温度：≥-40 ± 5℃。

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目低温工作寿命测试

检测标准号 JESD47K :2018

检测方法名 IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表 5-1

限制说明只测：LTOL，箱体容积：（L×W×H）（600×700×600）mm，温度：≥-40 ± 5℃。

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

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