百检网
百检网
自动增益控制范围 微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019 4007
电议
自动增益控制范围 微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019 4007
自动增益控制范围 微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019 4007
检测项目
  • 自动增益控制范围
    微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019 4007-只测: RF信号源: ≤12GHz 功率范围: -130dBm~+13dBm

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 自动增益控制范围

    检测标准号 MIL-STD-883L

    检测方法名 微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019 4007

    限制说明 只测: RF信号源: ≤12GHz 功率范围: -130dBm~+13dBm


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 第3条
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 第2条
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 第1条
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 第6条
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 第7条
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 第6条
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇/第2节/6
《GB/T17574-1998》半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 第4条