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高温试验 基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求 AEC-Q100(H):2014 表2,测试A6
电议
高温试验 基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求 AEC-Q100(H):2014 表2,测试A6
高温试验 基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求 AEC-Q100(H):2014 表2,测试A6
检测项目
  • 高温试验
    基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求 AEC-Q100(H):2014 表2,测试A6-只测温度:(85~200)℃,只用于车载器件,不测试验前后的电性测试,不测250°C温度的条件

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 高温试验

    检测标准号 AEC-Q100(H):2014

    检测方法名 基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求 AEC-Q100(H):2014 表2,测试A6

    限制说明 只测温度:(85~200)℃,只用于车载器件,不测试验前后的电性测试,不测250°C温度的条件


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



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