低压无功功率自动补偿控制器检测

电议

外观检查低压无功功率自动补偿控制器 JB/T 9663-2013 8.1

检测项目

外观检查

低压无功功率自动补偿控制器 JB/T 9663-2013 8.1-

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目外观检查

检测标准号 JB/T 9663-2013

检测方法名低压无功功率自动补偿控制器 JB/T 9663-2013 8.1

限制说明

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012
《JB/T 9663-2013》低压无功功率自动补偿控制器 JB/T 9663-2013
《GB/T 29312-2012》低压无功功率补偿投切装置 GB/T 29312-2012
《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.4.3.2
《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.4.3.1b）
《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.3
《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.4.3.4
《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.5
《GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012》低压熔断器第4部分：半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.4.3.1a）
《GB/T 13539.2-2015 IEC 60269-2:2013》低压熔断器第2部分：专职人员使用的熔断器的补充要求（主要用于工业的熔断器）标准化熔断器系统示例A至K GB/T 13539.2-2015 IEC 60269-2:2013

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