具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法检测

电议

瞬态热阻抗具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法 JESD 51-14：2010

检测项目

瞬态热阻抗

具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法 JESD 51-14：2010-只测：加热电流：-2A～80A 测试电流：-25mA～400mA 温敏电压： -5V～30V

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目瞬态热阻抗

检测标准号 JESD 51-14：2010

检测方法名具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法 JESD 51-14：2010

限制说明只测：加热电流：-2A～80A 测试电流：-25mA～400mA 温敏电压： -5V～30V

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

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