《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法检测

电议

老炼试验《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法1015.1

检测项目

老炼试验

《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法1015.1-只做：编程通道：48；编程深度：32K；一级老化电源： (0～20)V，250A；二级老化电源（VCC、VMUX）：(4～16)V，7A；二级老化电源（Vee）： (-4～-16)V，5A；二级老化电源(Vclk)： (4～16)V，5A; 温度：室温～125℃

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。