《半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法检测

电议

输入高电平《半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法》 GB/T 36474-2018 5.4.4.1

检测项目

输入高电平

《半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法》 GB/T 36474-2018 5.4.4.1-只测：-1V～7V

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。