半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法检测

电议

冲击半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2016

检测项目

冲击

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2016-只测：负载：≤5kg；台面尺寸：200mm×200mm；脉冲持续时间：0.5ms～18ms；加速度：≤14700m/s²；（半正弦波），脉冲持续时间：0.5ms～18ms；加速度：147m/s²～14700m/s²；（后峰锯齿波），脉冲持续时间：6ms～11ms：加速度：196m/s²～980m/s²

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。