电议
开关时间(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>） 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F 3472.2
开关时间(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>） 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F 3472.2
检测项目
- 开关时间(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>）半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F 3472.2-
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
服务详情
检测标准
检测项目 开关时间(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>）
检测标准号 MIL-STD-750F
检测方法名 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F 3472.2
限制说明
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
相关标准
《GB/T29332-2012》半导体器件 分立器件 第 9 部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)
《GB/T6571-1995》半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
《GB/T4023-2015》半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管
《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
《GB/T6571-1995》半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
《GB/T4023-2015》半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管
《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管
相关推荐
客服热线
400-101-7153
专属服务：156 0190 2607
企业邮箱： service@baijiantest.com