百检网
百检网
CL27:在座舱内的污迹 电气和电子装置环境的基本技术规范-物理-化学特性
电议
CL27:在座舱内的污迹 电气和电子装置环境的基本技术规范-物理-化学特性
CL27:在座舱内的污迹 电气和电子装置环境的基本技术规范-物理-化学特性
检测项目
  • CL27:在座舱内的污迹
    电气和电子装置环境的基本技术规范-物理-化学特性-null

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 CL27:在座舱内的污迹

    检测标准号 EQC-1206-20076.4.5

    检测方法名 电气和电子装置环境的基本技术规范-物理-化学特性

    限制说明


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《GJB 367A-2001》军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001
《GB/T 2423.5-1995》电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.5-1995
《GJB 150.6-1986》军用设备环境试验方法 温度-高度试验 GJB 150.6-1986
《GJB 150.2-1986》军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验 GJB 150.2-1986
《GJB 360B-2009》电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法103
《GB/T 2423.26-2008》电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压 综合试验 GB/T 2423.26-2008
《GB/T 2423.25-2008》电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 GB/T 2423.25-2008 GB/T 2423.25-2008
《GJB 150.18-1986》军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-1986
《GB/T 2423.21-2008》电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验M:低气压 GB/T 2423.21-2008
《GJB 367A-2001》军用通信设备通用规范 GJB 367A-2001 A07