微电子器件试验方法和程序方法检测

电议

内部目检微电子器件试验方法和程序方法2010

检测项目

内部目检

微电子器件试验方法和程序方法2010-null

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目内部目检

检测标准号 MIL-STD-883K

检测方法名微电子器件试验方法和程序方法2010

限制说明

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T4023-2015》半导体分立器件第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2
《 GB/T 4023-2015》半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.2
《GB/T6571-1995》《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节1
《GB/T4023-2015》半导体分立器件第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T4023-2015》半导体分立器件第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T4023-2015》半导体分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4

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