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铪 区域地球化学分析配套方法第3部分 X射线荧光光谱法测定硅等24项元素
电议
铪 区域地球化学分析配套方法第3部分 X射线荧光光谱法测定硅等24项元素
铪 区域地球化学分析配套方法第3部分 X射线荧光光谱法测定硅等24项元素
检测项目
  • 区域地球化学分析配套方法第3部分 X射线荧光光谱法测定硅等24项元素-null

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目

    检测标准号 WHCS-FF-CS/03-2019

    检测方法名 区域地球化学分析配套方法第3部分 X射线荧光光谱法测定硅等24项元素

    限制说明


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
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《GB/T 19466.1-2004》塑料差示扫描量热法(DSC) 第1部分:通则 GB/T 19466.1-2004
《IEC 62321-7-2:2017》电子电气产品限用物质-第7-2部分用比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬 IEC 62321-7-2:2017
《IEC 62321-5:2013》电子电气产品限用物质-第5部分用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬以及金属中的镉和铅 IEC 62321-5:2013
《IEC 62321-5:2013》电子电气产品中特定物质的测定--第5部分:原子吸收光谱法、原子荧光法、电感耦合等离子体光谱法和电感耦合等离子体质谱法测定聚合物和电子产品中镉、铅和铬,金属中镉和铅的含量 IEC 62321-5:2013
《IEC 62321-5:2013》电子产品中某些物质的测定-第五部分:使用AAS、AFS、 ICP-OES、 ICP-MS测定聚合物和电子部件中的镉 铅和铬,以及金属中的镉和铅 IEC 62321-5:2013
《GB/T 19466.1-2004》塑料 差示扫描量热法(DSC)第1部分:通则 GB/T 19466.1-2004