半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路检测

电议

电源电流I 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项目

电源电流I

半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路-null

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目电源电流I

检测标准号 GB/T17574-1998

检测方法名半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

限制说明

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第2节 2
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3节 6
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《GJB2440A-2006》混合集成电路外壳通用规范 GJB2440A-2006 3.6.1
《GJB2440A-2006》混合集成电路外壳通用规范 GJB2440A-2006 3.4.4
《GJB2440A-2006》混合集成电路外壳通用规范 GJB2440A-2006 3.6.2
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3节 1
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3节 4.6 d3）
《GJB2440A-2006》混合集成电路外壳通用规范 GJB2440A-2006 3.6.3
《GB/T17574-1998》半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇第3节 4.6 d4）

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