电议
线性误差温度系数 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
线性误差温度系数 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目
- 线性误差温度系数集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理-null
支持报告类型： 电子报告、纸质报告
支持报告语言： 中文报告、英文报告、中英文报告
报告盖章资质： CMA；CNAS
服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
取样方式： 快递邮寄或上门取样
样品要求： 样品数量及规格等视检测项而定
服务详情
检测标准
检测项目 线性误差温度系数
检测标准号 SJ 20961-2006
检测方法名 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
限制说明
服务简介
服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。
服务流程
合作机构资质
报告样例
平台优势
百检介绍
相关标准
《GJB1648A-2011》晶体振荡器通用规范 GJB1648A-2011 4.6.17
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1021
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2056，方法2057
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1041，方法1046
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法：1001
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.23
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.24
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051 A、 B
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.22
《GJB 548B-2005》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1021
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2056，方法2057
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1041，方法1046
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法：1001
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.23
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.24
《GJB128A-1997》半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051 A、 B
《SJ/T10638-1995》石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995 4.3.22
《GJB 548B-2005》微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1004.1
客服热线
400-101-7153
专属服务：156 0190 2607
企业邮箱： service@baijiantest.com