半导体集成电路模拟开关测试方法检测

电议

截止态漏级漏电流ID（off）半导体集成电路模拟开关测试方法

检测项目

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

相关标准

《GB/T28204-2011》家用和类似用途膜状电热元件
《IEC61439-5:2014》低压成套开关设备和控制设备第5部分：公用电网电力配电成套设备
《GB/T21711.1-2008;IEC61810-1:2003,2019(ed4.1)》基础机电继电器第1部分：总则与安全要求

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