《AEC-Q100-005-2012》非易失性存储器耐久性,数据保留和操作寿命 AEC-Q100-005-2012
《AEC - Q100-005 - REV-D1 -2012》非易失性存储器程序/擦除持久性,数据保留,和操作寿命测试 AEC - Q100-005 - REV-D1 -2012
《AEC-Q 100-005-2012》非易失存储器程序/擦除耐久性,数据保持和可操作性寿命试验 AEC-Q100-005-2012
《AEC - Q100-008 - REV-A-2003》早期寿命失效率 AEC - Q100-008 - REV-A-2003
《AEC-Q 100-008-REV-A:2003》早期寿命失效率 AEC-Q100-008-REV-A:2003
《AEC-Q 100-005-REV-D1:2012》可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012
《AEC-Q100-008-Rev-A:2003》早期失效率 AEC-Q100-008-Rev-A:2003
《AEC - Q 100-008 - REV-A:2003》早期失效率 AEC - Q100-008 - REV-A:2003
《AEC-Q 100-005-REV-D1:2012》非易失性存储器耐久性、数据保持性、工作寿命测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012
《AEC-Q 100-008A-2007》早期寿命失效率 AEC-Q100-008A-2007