半导体设备晶体管电学实验方法检测

电议

开关时间&损耗半导体设备晶体管电学实验方法 MIL-STD-750-3w/CHANGE 1-2019

检测项目

开关时间&损耗

半导体设备晶体管电学实验方法 MIL-STD-750-3w/CHANGE 1-2019-只测：电流：0-200A，电压：0-1200V，测试温度：(25±3)℃；租借设备。

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。