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辐射发射测量-TEM小室法 集成电路 150kHz-1GHz电磁发射测量 辐射发射测量方法 TEM小室和宽带TEM小室法 IEC 61967-2: 2005
电议
辐射发射测量-TEM小室法 集成电路 150kHz-1GHz电磁发射测量 辐射发射测量方法 TEM小室和宽带TEM小室法 IEC 61967-2: 2005
辐射发射测量-TEM小室法 集成电路 150kHz-1GHz电磁发射测量 辐射发射测量方法 TEM小室和宽带TEM小室法 IEC 61967-2: 2005
检测项目
  • 辐射发射测量-TEM小室法
    集成电路 150kHz-1GHz电磁发射测量 辐射发射测量方法 TEM小室和宽带TEM小室法 IEC 61967-2: 2005-样品最大尺寸:6cm*6cm*1cm,TEM开口尺寸:9.1cm*9.1cm

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 辐射发射测量-TEM小室法

    检测标准号 IEC 61967-2:2005

    检测方法名 集成电路 150kHz-1GHz电磁发射测量 辐射发射测量方法 TEM小室和宽带TEM小室法 IEC 61967-2: 2005

    限制说明 样品最大尺寸:6cm*6cm*1cm,TEM开口尺寸:9.1cm*9.1cm


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



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