基于集成电路应力测试认证的失效机理检测

电议

高温储存寿命基于集成电路应力测试认证的失效机理 AEC-Q100-Rev-H

检测项目

高温储存寿命

基于集成电路应力测试认证的失效机理 AEC-Q100-Rev-H-只测：1.温度：≤250℃；2.样品尺寸小于3100mm×2000mm×2400mm

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目高温储存寿命

检测标准号 AEC-Q 100-Rev-H

检测方法名基于集成电路应力测试认证的失效机理 AEC-Q100-Rev-H

限制说明只测：1.温度：≤250℃；2.样品尺寸小于3100mm×2000mm×2400mm

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

相关标准

《GB/T 14710-2009》医用电气环境要求及试验方法 GB/T 14710-2009 11.1
《GB/T 14710-2009》医用电气环境要求及试验方法 GB/T 14710-2009 11.2
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《GB/T 14710-2009》医用电气环境要求及试验方法 GB/T 14710-2009 11.6
《GB/T 14710-2009》医用电气环境要求及试验方法 GB/T 14710-2009 11.3

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