百检网
百检网
低温 光纤组件温度寿命测试 TIA/EIA-455-4C :2002
电议
低温 光纤组件温度寿命测试 TIA/EIA-455-4C :2002
低温 光纤组件温度寿命测试 TIA/EIA-455-4C :2002
检测项目
  • 低温
    光纤组件温度寿命测试 TIA/EIA-455-4C :2002-

支持报告类型: 电子报告、纸质报告

支持报告语言: 中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质: CMA;CNAS

服务周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

取样方式: 快递邮寄或上门取样

样品要求: 样品数量及规格等视检测项而定

服务详情
检测标准
  • 检测项目 低温

    检测标准号 TIA/EIA- 455-4C :2002

    检测方法名 光纤组件温度寿命测试 TIA/EIA-455-4C :2002

    限制说明


服务简介


服务范围:GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。


服务流程



合作机构资质



报告样例



平台优势



百检介绍


相关标准
《TIA/EIA- 455-5C-2002》光纤组件湿度测试程序 TIA/EIA-455-5C-2002
《TIA- 455-71-A:1999》光纤元件温度冲击测试程序 TIA-455-71-A:1999
《TIA/EIA-568-B.3(2000)》光纤布线组件标准 TIA/EIA-568-B.3(2000) 4
《TIA/EIA- 455-4C :2002》光纤组件温度寿命测试 TIA/EIA-455-4C :2002
《TIA/EIA-568-B.3(2000)》光纤布线组件标准 TIA/EIA-568-B.3(2000)
《TIA/EIA-568-B.3(2000)》光纤布线组件标准 TIA/EIA-568-B.3(2000)