GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法 现行

标准号：GB/T 36613-2018
中文标准名称：发光二*管芯片点测方法
英文标准名称：Probe test method for light emitting diode chips
标准状态：现行,发布于2018-09-17; 实施于2019-01-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
中国标准分类号：31.260
国际标准分类号：31.260
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：三安光电股份有限公司;中国电子技术标准化研究院;厦门市三安光电科技有限公司;广州赛西标准检测研究院有限公司
相近标准：20151775-T-339 发光二*管芯片点测方法; 发光二*管芯片点测方法; DB35/T 1370-2013 发光二*管芯片点测方法; DB35/T 1193-2011 半导体发光二*管芯片; SJ/T 11399-2009 半导体发光二*管芯片测试方法; SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二*管芯片技术规范; GB/T 36356-2018 功率半导体发光二*管芯片技术规范; 20130009-T-339 功率半导体发光二*管芯片技术规范; GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二*管芯片技术规范; 20130011-T-339 中功率半导体发光二*管芯片技术规范