GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法 现行

标准号：GB/T 32651-2016
中文标准名称：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
英文标准名称：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
标准状态：现行,发布于2016-04-25; 实施于2016-11-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2016-04-25
实施日期：2016-11-01
中国标准分类号：29.045
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：国家太阳能光伏产品质量监督检验中心（无锡市产品质量监督检验中心）;国家硅材料深加工产品质量监督检验中心;中国电子技术标准化研究院;江苏中能硅业科技发展有限公司;江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
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